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集成电路参数成品率的预测与优化技术研究

本文对集成电路(IC)制造过程中的参数成品率问题进行了系统的研究,主要贡献和结果如下:在中心值设计和容差分配的基础上,提出了一种IC参数成品率的中心值设计和容差分配的耦合求解最优化方法。该方法是针对容差,和中心值p~0进行耦合设计,即同时把标称值和容差作为参数进行优化设计。算法通过中心设计和容差分配两种情况交替偶合求解,最终收敛到最优的设计值。对于一个复杂的集成电路,如果设计者对其中的物理机理或内部结构不是很清楚时,通常很难得知可接受域的几何状态的信息,因此初始值和初始容差与最优解的差距可能较大。所选择的初始值可能根本不在可接受域内部,甚至可能相差很大,或者虽然在其中,但成品率却很低,对于这两种情况,该算法均可给出最优的设计值和容差值。尽管Monte Carlo(MC)成品率估计有很多优点,但是效率比较低,收敛速度慢,针对这一点,本文提出了一种基于均匀设计抽样的参数成品率估计方法。由于均匀设计的“均匀的布满空间”特点,因此只需要  (本文共135页) 本文目录 | 阅读全文>>

西安电子科技大学
西安电子科技大学

模拟集成电路性能参数建模及其参数成品率估计算法的研究

随着集成电路设计向系统集成的方向发展,落后的模拟集成电路设计自动化水平已成为制约数模混合系统发展的瓶颈。电路优化技术是实现模拟集成电路设计自动化的重要手段,而基于电路性能参数模型的电路优化更是这一技术发展的核心。现有的建模技术要么是以器件尺寸作为变量从而使电路优化深受初始点的影响,要么无法反映电路原理且与设计习惯不符从而无法得到大范围的推广应用。参数成品率(以下简称为成品率)的估计是否符合实际情况是成品率优化能够成功实现的基础,同时也是合理选择供应商或制造厂家的关键所在。成品率估计的核心问题是用尽量少的电路仿真次数最大可能的提高成品率估计的精度。当面对已剔除不合格品的截尾数据样本时,传统的成品率估计方法不再适用,因此如何识别截尾数据并快速准确地估计这一特殊条件下的成品率,是一个急待解决的问题。本文深入研究了电路性能参数建模与参数成品率估计这两个模拟集成电路设计自动化及其成品率优化的关键问题,具体的研究内容包括以下几点:1.在分析...  (本文共156页) 本文目录 | 阅读全文>>