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数字集成电路电流测试技术研究

集成电路(IC)被生产出来以后要进行测试。IC测试贯穿在IC设计、制造、封装及应用的全过程,被认为是IC产业的4个分支(设计、制造、封装与测试)中一个极为重要的组成部分,它已经成为IC产业发展中的一个瓶颈。有人预计,到2012年,可能会有多达48%的好芯片不能通过测试,IC测试所需的费用将在IC设计、制造、封装和测试的总费用中占80%~90%的比例。工业界常采用电压测试和稳态电流(I_(DDQ))测试来测试数字CMOS IC。电压测试包括逻辑测试和时延测试两方面的测试内容,前者验证IC的功能是否正确,后者验证IC的时间特性是否正确。电压测试方法可以检测出大量的物理缺陷,而且比较简单,速度较快。但是,由于电压测试所使用的故障模型存在局限性,而且测试常常不能全速进行,因此一般来说,电压测试只善于验证电路的功能。与电压测试相比,(I_(DDQ))测试更善于检测由于生产过程中的细微偏差而导致的一些“小”缺陷,它的最大优点是能大幅度地降低  (本文共110页) 本文目录 | 阅读全文>>

南京航空航天大学
南京航空航天大学

基于电源电流测试的数字电路故障诊断研究

随着数字系统设计技术的发展和电路集成度的提高,由晶体管缺陷导致的各种故障对电路的影响也越来越大,这给传统的测试技术带来了严峻的挑战。电源电流测试技术包括静态电流(IDDQ)测试技术和动态电流(IDDT)测试技术,它通过提取电源电流中有用信息来诊断故障,是传统数字电路测试技术的重要补充。但电源电流测试技术还面临很多问题,仍需进一步进行研究。首先,研究了基于电源电流测试的数字电路故障诊断技术,包括逻辑门电路测试、组合逻辑电路测试,证明了结合静态电流和动态电流可以有效地提高故障覆盖率。在研究组合电路故障诊断技术时,修改了故障模式,使其更符合实际情况,并分别使用神经网络和支持向量机对数字电路进行故障定位,分析比较了它们的定位效果,在此基础上本文提出了融合电源静态电流(多阈值IDDQ)和动态电流测试信息的复杂故障数字电路支持向量机智能诊断方法。通过实例电路分析,实验结果表明新方法能实现复杂故障的准确定位,故障诊断率达到了94%。其次,本文...  (本文共83页) 本文目录 | 阅读全文>>

湖南大学
湖南大学

模拟和混合信号电路测试及故障诊断方法研究

随着现代电子技术尤其是数模混合电路和片上系统技术的发展,对模拟和混合电路的测试及故障诊断的需求日益迫切。但由于模拟和混合电路本身的复杂性,使得传统的数字电路测试方法在模拟和混合信号电路测试及故障诊断中的应用前景和人们的期望相差甚远。因此本文对模拟和混合信号电路的测试及故障诊断问题进行了深入的研究,以现代测试技术为基础,提出了一些新的测试和诊断方法。本文的工作主要有以下几个方面:(1)研究了混合信号电路的电流测试方法。稳态电流测试已成为一种重要的数字电路测试方法被业界广为接受,瞬态电流测试作为传统测试方法的一个有益补充也正受到越来越多的关注。但在混合信号电路中,电流测试的研究仍处在初级阶段,因此本文在这方面进行了一些有益的探索性工作。在对混合信号电路的稳态、瞬态电流测试进行深入研究的基础上,本文提出了一种基于小波分析的混合信号电路动态电流测试及故障诊断方法。所提出的动态电流测试方法为混合信号电路的故障检测提供了一个有效手段。同时,...  (本文共120页) 本文目录 | 阅读全文>>

复旦大学
复旦大学

汽车智能功率集成电路低成本测试技术研究

随着汽车电子的快速发展,使用高度集成的汽车智能功率集成电路的产品越来越多,对可靠性的要求也越来越严格。集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。汽车电子的开发中大量使用了大功率的集成电路,为了保证其可靠性必须对较多的样品进行抗压试验,然后进行自动测试,因此既有大功率的输出功能测量,又涉及诊断通讯等数字信号验证。芯片制造商甚至终端产品的开发商必须寻求以最低的成本完成集成电路自动测试,以尽早的验证产品性能和质量,并且需要测试设备有很强的适应性可以适用于测试各种不同的大功率数模混合信号。本文首先按照汽车智能功率集成电路测试的要求介绍了整个测试系统的组成和结构,比较多种低成本测试系统的组成、性能、价格等因素。最终选用TR6850低成本测试系统进行测试。然后对汽车智能功率集成电路测试技术进行归纳,包括开关资源的合理分配,直流参数的测试,交流测试,功能测试以及DSP技术在自动测试中的应用。并将此自动测试技术应用于一款汽车级大功率输...  (本文共102页) 本文目录 | 阅读全文>>

华中科技大学
华中科技大学

数字电路的故障测试模式生成方法研究

IC 业是全球经济发展的高速增长点,其质量和可靠性尤为重要。而IC 制造测试是确保IC 质量的一种重要手段。开发测试的核心主题是可测性设计、测试模式生成、测试模式评价和测试程序开发与调试。本论文的主要研究工作是测试模式生成与测试模式评价方法。随着VLSI 电路的复杂度越来越高,对其质量要求也越来越高,因此测试生成问题也就变得更加重要,同时也变得更加困难。如今全扫描设计已经成为了事实上的工业标准,这使得多年来未得到根本解决的时序电路测试生成问题变成了组合电路的测试生成问题。因此,组合电路的测试生成问题也就成了研究的焦点。自动测试生成技术是电子设计自动化中最难的问题之一。它所涉及的问题及其相关的子问题几乎都是NP 难问题,它有着极强的理论性和实践性。它一直是EDA 领域中的一个重要研究主题,因为它与测试经济和半导体技术的飞速发展密切相关,其目的就是要加速测试生成时间和提高测试模式质量。本论文在理论和实践方面系统地研究了测试生成方法及...  (本文共134页) 本文目录 | 阅读全文>>

中国科学院研究生院(计算技术研究所)
中国科学院研究生院(计算技术研究所)

集成电路寄存器传输级测试生成

集成电路(Integrated Circuit,简称IC)的设计验证与测试对保证其功能的正确性和可靠性非常重要,而时序电路测试生成则是其中一个相当困难的问题。本文在综述集成电路测试与设计验证的方法与技术的基础上,针对目前电路设计广泛采用的寄存器传输级(Register Transfer Level,简称RTL)的行为描述,提出了一种有效的测试生成方法,其生成的测试序列不仅可以用于电路的设计验证,而且可以供芯片的功能测试之用。本文的创新点如下:1.针对RTL行为描述,提出了精确而简练的抽象表示:进程是RTL行为描述的基本成分,其中的语句是过程性语句。通过抽象,本文将进程中语句的控制结构表示为“进程控制树”,将其中数据关系表示为“数据流向图”,且将其定义的电路行为表示成“定义行为图”。这些抽象表示是实现本文方法的基础。2.针对RTL行为的抽象,提出了用行为倾向驱动引擎展现电路行为的方法:所谓行为倾向,就是电路在当前状态下,最有可能表...  (本文共148页) 本文目录 | 阅读全文>>

中国科学院研究生院(计算技术研究所)
中国科学院研究生院(计算技术研究所)

基于寄存器传输级层次模型的测试生成研究

集成电路(Integrated Circuit,简称IC)的设计验证和测试是确保数字系统正常工作的必要手段。无论是设计验证还是芯片测试,测试生成都作为其主要内容而被广泛关注。本文首先综述了集成电路的测试和设计验证的基本原理和方法;其次针对设计所采用的寄存器传输级(Register Transfer Level,简称RTL)行为描述方式,介绍了若干已有的高层次测试生成方法;最后提出了一种可行的RTL级测试生成算法,所产生的测试序列可有效地应用于电路的功能测试或设计验证。本文工作贡献主要有以下三个方面:1.建立了一种有效的RTL行为模型。本文从电路的控制结构和数据路径两方面出发,建立了电路的控制流图和数据流图两层次模型:第一层通过控制流图反映电路语句间的连接关系;第二层通过控制流图中的每一结点所对应的数据流图,反映语句的具体操作。该模型实现了对电路的分层描述,相对于以往的电路模型具有形式简单、规模小、易于处理的优点,便于根据测试的具...  (本文共126页) 本文目录 | 阅读全文>>