分享到:

数字集成电路电流测试技术研究

集成电路(IC)被生产出来以后要进行测试。IC测试贯穿在IC设计、制造、封装及应用的全过程,被认为是IC产业的4个分支(设计、制造、封装与测试)中一个极为重要的组成部分,它已经成为IC产业发展中的一个瓶颈。有人预计,到2012年,可能会有多达48%的好芯片不能通过测试,IC测试所需的费用将在IC设计、制造、封装和测试的总费用中占80%~90%的比例。工业界常采用电压测试和稳态电流(I_(DDQ))测试来测试数字CMOS IC。电压测试包括逻辑测试和时延测试两方面的测试内容,前者验证IC的功能是否正确,后者验证IC的时间特性是否正确。电压测试方法可以检测出大量的物理缺陷,而且比较简单,速度较快。但是,由于电压测试所使用的故障模型存在局限性,而且测试常常不能全速进行,因此一般来说,电压测试只善于验证电路的功能。与电压测试相比,(I_(DDQ))测试更善于检测由于生产过程中的细微偏差而导致的一些“小”缺陷,它的最大优点是能大幅度地降低  (本文共110页) 本文目录 | 阅读全文>>

湖南大学
湖南大学

模拟和混合信号电路测试及故障诊断方法研究

随着现代电子技术尤其是数模混合电路和片上系统技术的发展,对模拟和混合电路的测试及故障诊断的需求日益迫切。但由于模拟和混合电路本身的复杂性,使得传统的数字电路测试方法在模拟和混合信号电路测试及故障诊断中的应用前景和人们的期望相差甚远。因此本文对模拟和混合信号电路的测试及故障诊断问题进行了深入的研究,以现代测试技术为基础,提出了一些新的测试和诊断方法。本文的工作主要有以下几个方面:(1)研究了混合信号电路的电流测试方法。稳态电流测试已成为一种重要的数字电路测试方法被业界广为接受,瞬态电流测试作为传统测试方法的一个有益补充也正受到越来越多的关注。但在混合信号电路中,电流测试的研究仍处在初级阶段,因此本文在这方面进行了一些有益的探索性工作。在对混合信号电路的稳态、瞬态电流测试进行深入研究的基础上,本文提出了一种基于小波分析的混合信号电路动态电流测试及故障诊断方法。所提出的动态电流测试方法为混合信号电路的故障检测提供了一个有效手段。同时,...  (本文共120页) 本文目录 | 阅读全文>>

复旦大学
复旦大学

汽车智能功率集成电路低成本测试技术研究

随着汽车电子的快速发展,使用高度集成的汽车智能功率集成电路的产品越来越多,对可靠性的要求也越来越严格。集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。汽车电子的开发中大量使用了大功率的集成电路,为了保证其可靠性必须对较多的样品进行抗压试验,然后进行自动测试,因此既有大功率的输出功能测量,又涉及诊断通讯等数字信号验证。芯片制造商甚至终端产品的开发商必须寻求以最低的成本完成集成电路自动测试,以尽早的验证产品性能和质量,并且需要测试设备有很强的适应性可以适用于测试各种不同的大功率数模混合信号。本文首先按照汽车智能功率集成电路测试的要求介绍了整个测试系统的组成和结构,比较多种低成本测试系统的组成、性能、价格等因素。最终选用TR6850低成本测试系统进行测试。然后对汽车智能功率集成电路测试技术进行归纳,包括开关资源的合理分配,直流参数的测试,交流测试,功能测试以及DSP技术在自动测试中的应用。并将此自动测试技术应用于一款汽车级大功率输...  (本文共102页) 本文目录 | 阅读全文>>

南京航空航天大学
南京航空航天大学

基于电源电流测试的数字电路故障诊断研究

随着数字系统设计技术的发展和电路集成度的提高,由晶体管缺陷导致的各种故障对电路的影响也越来越大,这给传统的测试技术带来了严峻的挑战。电源电流测试技术包括静态电流(IDDQ)测试技术和动态电流(IDDT)测试技术,它通过提取电源电流中有用信息来诊断故障,是传统数字电路测试技术的重要补充。但电源电流测试技术还面临很多问题,仍需进一步进行研究。首先,研究了基于电源电流测试的数字电路故障诊断技术,包括逻辑门电路测试、组合逻辑电路测试,证明了结合静态电流和动态电流可以有效地提高故障覆盖率。在研究组合电路故障诊断技术时,修改了故障模式,使其更符合实际情况,并分别使用神经网络和支持向量机对数字电路进行故障定位,分析比较了它们的定位效果,在此基础上本文提出了融合电源静态电流(多阈值IDDQ)和动态电流测试信息的复杂故障数字电路支持向量机智能诊断方法。通过实例电路分析,实验结果表明新方法能实现复杂故障的准确定位,故障诊断率达到了94%。其次,本文...  (本文共83页) 本文目录 | 阅读全文>>

湖南大学
湖南大学

时延故障测试产生算法与I_(DDT)测试实验研究

随着集成电路设计与加工技术的飞速发展,测试作为IC产业中一个极为重要的环节,变得越来越困难。特别是进入深亚微米发展阶段以来,通过集成各种IP核,系统级芯片的功能更加强大,同时也带来了一系列的测试问题。工业界常采用电压测试和稳态电流测试方法来测试数字CMOS IC。电压测试的方法比较简单,速度快,它对于检测固定型故障是有效的,但对于检测CMOS工艺中的其他类型故障则显得有些不足。20世纪80年代初,人们提出了用测量CMOS电路稳态电流的方法来测试集成电路,但随着深亚微米技术的发展,这种方法的局限性也暴露出来,如测试速度慢、故障与正常电流的差别变小等。90年代中期,人们提出了瞬态电流测试的方法,试图通过分析正常电路和故障电路在两次稳定状态之间电流变化过程的不同来发现一些其他测试方法所不能发现的故障,以进一步提高故障覆盖率。本文在瞬态电流测试已有算法的基础上,针对门时延故障模型,提出了一种基于3个向量的测试产生算法。实验表明产生的向量...  (本文共65页) 本文目录 | 阅读全文>>

电子科技大学
电子科技大学

基于IDDT信息的RFIC管级故障建模与测试矢量研究

射频集成电路(RFIC, radio frequency integrated circuits)在近十年内得到广泛重视,并在无线通信领域取得快速发展,成为研究的重点和热点。对RFIC的测试理论和测试方法,以及测试中CMOS射频集成电路关键的FET管级故障影响因素进行研究,具有重要的实践意义。本文通过对影响整个CMOS射频集成电路性能的关键器件的场效应管(FET)建立故障模型。提取FET管的内部参数,建立正确的高频FET小信号模型。用PSpice在放大电路中测试结果表明该模型符合实验要求。在PSpice下模拟FET管级参数故障、短路故障、开路故障,分别在输入端输入不同的波形激励,如方波、正弦波、三角波等进行测试。在电路的馈电端所产生的总的电路的动态电流便是待测电路中各故障点电流的和。分析在各种波形激励下,通过馈电端所采集到的数据,用时域峰峰值和动态电流平均值差别法来判定哪种波形能使故障最明显,从而达到对FET管级各种故障的分析和...  (本文共67页) 本文目录 | 阅读全文>>