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大功率激光器综合参数测试系统设计与实现

为了满足在恶劣环境下工作的大功率激光器各项参数的综合测试需求,采用各种光电传感器件设计了一套综合参数测试系统,着重介  (本文共4页) 阅读全文>>

《机床与液压》2010年24期
机床与液压

中国将制定大功率激光器标准体系

全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会大功率激光器应用分技术委员会成立大会暨第一届一次工作会议日前在武汉召开。大功...  (本文共1页) 阅读全文>>

《光学仪器》2004年03期
光学仪器

无铝大功率激光器列阵

由中科院长春光机所承担的,吉林省科技发展计划重大项目“80 8nm百瓦级连续波无铝量子阱迭阵激光器研制”,不久前在...  (本文共1页) 阅读全文>>

《红外与激光技术》1989年02期
红外与激光技术

大功率激光器阵列

日本夏普公司已开发比以前大4~5倍大功率半导体激光器阵列,并确立实用化技术。所开发的激光器阵列采用和以前MOCVD不同...  (本文共1页) 阅读全文>>

西安电子科技大学
西安电子科技大学

光电传感器激光致盲与损毁技术研究

自从光电传感器问世以来,由于其具有分辨率高、灵敏度好以及成像速度快等优点,被广泛应用于各个领域,尤其是在军事领域有着广阔的应用背景。近些年来,随着光电制导武器的不断发展以及在军事中所占据的重要地位,对光电制导武器的干扰与致盲已经成为重要的研究方向。本文研究激光对光电传感器干扰与致盲的技术。通过实验研究了激光对光电探测器的干扰与损伤效应。实验中采用1064nm和532nm激光对CCD和CMOS图像传感器进行辐照,发现在532nm的激光照射下,CCD发生饱和的功率密度是0.34 W?cm~2,损坏的功率密度是11.2W?cm~2;CMOS发生饱和的功率密度是0.07 W?cm~2,发生过饱和的功率密度是0.12 W?cm~2,发生点损伤的功率密度是0.55W?cm~2,发生线损伤的功率密度是1.3W?cm~2。而在1064nm的激光对CMOS的辐照实验中只观察到了饱和现象,部分饱和的功率密度是1.6 W?cm~2,基本全部饱和的功率...  (本文共77页) 本文目录 | 阅读全文>>

《激光与光电子学进展》2017年09期
激光与光电子学进展

大功率激光器及其发展

大功率激光器在工业与国防等领域有着广泛的应用,是现代激光材料加工、激光再制造、国防安全领域中必不可少的核心组件。随着激光技术的发展,大功率激光器的性能也在不断提高,许多新型激光器相继问世。相比于传统的灯抽运激光器,半导体激光器具有体积小、效率...  (本文共14页) 阅读全文>>