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利用椭偏仪测量波片特性

波片是一种常用的光学元件,特别是1/4波片和1/2波片在光学仪器中起着重要的作用。波片有两个主要参数;快轴和慢轴透射光之间的位相延  (本文共2页) 阅读全文>>

北京工业大学
北京工业大学

深紫外成像光谱椭圆偏振仪校准方法研究

成像椭偏仪(Imaging Spectroscopic Ellipsometer)是一个能够实时观察或显示样品表面信息并对感兴趣的区域进行测量的仪器。它具有无损检测、非苛刻性、精度高、成像并可观察感兴趣区域等优点,可应用于石墨烯、太阳能电池、自组装单分子层,蛋白质-蛋白质相互作用等领域。成像椭偏仪在对待测样品进行测量之前,需要对其系统参数进行精确的校准,系统参数校准的好坏将直接影响成像椭偏仪测量的准确性。本论文主要围绕成像椭偏仪系统的校准进行展开,以实现准确校准成像椭偏仪系统参数为目标,深入研究成像椭偏仪理论与系统参数的关系,提出并优化系统中零级波片的相关参数,进而提出用于校准成像椭偏仪系统参数的方法,并通过搭建实验平台进行验证,理论和实验结果相吻合。本文主要研究内容如下:1.提出一种测量成像椭偏仪元件中零级波片的偏差角度和相位延时量的方法。通过光学无损测量的相关理论分析,并选择合适的物理模型,经过复杂的理论推导,得到用于检测波...  (本文共68页) 本文目录 | 阅读全文>>

曲阜师范大学
曲阜师范大学

石英晶体双折射率色散关系的高精度测量

随着偏光技术与信息技术的发展,利用双折射现象,加工而成的偏光器件,已在很多领域有了广泛的应用。折射率是晶体的重要光学参数之一,其测量值对器件设计有至关重要的作用。测量双折射率的方法有很多,大多数是针对单一波长进行,先测出主折射率,然后由其推算出双折射率值,精度一般在10-4。比较精确的测量方法当数干涉测量法,如浸液干涉法和自补干涉法,它们的共同之处是精度比传统方法提高一至两个数量级,但是上述干涉法用于可见光之外的测量是不适宜的,并且测试所需样品精度要求非常高,一般晶体加工工艺难以保证,从而使得测量精度与理论精度相差较大。本文详细介绍了两种高精度测量石英晶体双折射率色散特性的方法。偏光干涉法和椭偏测量法。这两种方法都屏蔽了光源不稳定带来的影响,具有测量精度高,测量波段宽,光路简单,数据采集自动化等特点。论文共分五章:第一章绪论部分,对双折射率测量方法的研究现状做了简单说明,并对本论文的主要工作进行了概述。第二章双折射现象,简单介绍...  (本文共44页) 本文目录 | 阅读全文>>

《浙江大学学报》1985年03期
浙江大学学报

波片相延角的测定

本文叙述精确测定波片相延角的一种方法。这种方法利用波片相延角与起偏振器及偏振椭...  (本文共6页) 阅读全文>>

《激光杂志》1985年06期
激光杂志

四分之一波片的制备

本文叙述一种四...  (本文共2页) 阅读全文>>

《光学学报》1988年07期
光学学报

作为光学波片的费涅耳斜方体

根据全反射时的菲涅耳原理,我们设计了在紫外波段作为λ...  (本文共2页) 阅读全文>>

《中国激光》1988年10期
中国激光

新型电光波片

报道一种新型的电光波片.与通常的电光调制器相比,它不仅可以改变...  (本文共4页) 阅读全文>>