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小测试

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权威出处: 《尚舞》2012年03期
上海大学
上海大学

基于FSM的测试用例生成和测试优化

随着软件复杂性的增长、软件不断向其它领域的渗透及对软件可靠性要求的增加,如何保证软件的质量和可信性变得越来越困难,相应的成本也不断增加。早期的研究表明测试成本已经占软件开发总成本的50%以上,未经充分测试的软件会带来严重的经济影响。基于模型的测试是指由软件的行为模型产生测试用例,再测试实际的软件实现是否与模型一致。模型描述了软件“做什么”而不是“怎么做”,因此由模型导出测试用例时不必考虑到程序的具体实现。过去,一些基于模型的测试生成方法和测试准则已被相继提出。例如W方法、UIO方法、DS方法、状态覆盖准则、迁移覆盖准则和迁移对覆盖准则等等。然而,由于测试意图的不同,上述这些测试生成方法和测试准则并不能解决所有的问题且具有一定的局限性。例如,虽然W方法具有很强的错误探测能力,但该方法生成的测试序列包含大量的冗余,导致测试成本的急剧增加。为此,PW方法和R-PW方法被相继提出。这些方法具有与W方法相同的测试效率,同时可减少测试序列中...  (本文共143页) 本文目录 | 阅读全文>>

中国社会科学院研究生院
中国社会科学院研究生院

汉语婴幼儿语法范畴的最初习得

语法系统的习得是母语习得中非常重要的方面,因为语言是遵循一定的语法规则的,而儿童构建自己的语言必然是按照一定语法规则进行的。因此,如何习得语法系统中最基础的部分——语法范畴,就成为了儿童语法习得中最重要的问题。因为语法范畴是构成句子及句法规则的基础。有了这些基础知识,儿童才能进一步习得其他语法范畴。语法范畴对于理解母语中的句子,并说出自己的句子,甚至是一些他们从未听过的句子都很重要。儿童在语言习得的最初阶段,是怎样习得语法范畴的,这是我们最关心的问题。在语言习得过程中,词汇是需要儿童逐个学习并且记忆的。儿童在学习词汇时,需要将词汇归入适当的语法范畴,如名词、动词、副词等。但是,儿童是如何将词归入语法范畴的,这一过程的形成机制与决定因素仍不明确。关于幼儿早期如何习得句法范畴,主要有三种理论:语义启动理论、音韵启动理论和分布启动理论。本文以分布启动理论为指导,利用感知实验的方法,考察汉语幼儿能否利用分布特征对名词、动词进行范畴化。名...  (本文共95页) 本文目录 | 阅读全文>>

合肥工业大学
合肥工业大学

数模混合电路故障诊断系统若干问题的研究

随着电子技术的迅猛发展,电路系统的复杂度急剧增加,目前约有60%的芯片同时包含了数字和模拟两种信号,电路测试也因此面临着更大的挑战。离散事件系统理论(DES-Discrete Event System)把数模混合电路中数字/模拟信号统一在同一个数学模型下,有效的覆盖目前大部分类型的电路测试问题,在一定程度上解决了数模混合电路故障诊断困难的问题。本文在DES理论的框架下对数模混合电路故障诊断中的若干关键问题进行了研究。本文的主要工作如下:◆ 深入研究了基于DES理论的电路故障诊断模型,探讨了DES理论的优越性和不足之处。◆ 针对求取电路的最小测试集一直是基于DES理论的电路可测试性研究领域的重点和难点的现状,提出了一种新的求取电路最小测试集的算法,该算法将最小测试集的求取看作是在求最精细分区逆运算过程中去除冗余事件的运算。该算法利用线性方程组的基本知识,将求最精细分区看作方程组求解,将求最小测试集看作去除冗余方程的过程,从而从代数...  (本文共68页) 本文目录 | 阅读全文>>

合肥工业大学
合肥工业大学

基于DES理论的数模混合电路可测试性研究

随着科学技术特别是微电子技术的迅猛发展,电路的规模和复杂性都急剧上升。工业过程的模拟特性和微芯片的使用,使得数模混合电路的应用有着巨大的空间。数模混合电路在设计和测试中的可测试性问题成为一个迫切的研究课题。近年来出现的DES理论为数模混合电路的可测试性提供一种的系统化的处理方法。本文在DES理论的框架下对数模混合电路可测试性中的几个关键问题进行研究,并针对最小测试集的求取算法进行了理论上的探讨。本文的主要工作如下:(1)对数模混合电路的数学模型进行了研究,并对其可行性进行了验证。这样使得数字和模拟电路能够在一个统一的数学框架中进行可测试性分析和后续处理。(2)编写了一套基于DES理论的电路测试的演示软件,实现了对被测电路的可测试性判断、故障覆盖率和最小测试集求取的算法,能够实现对电路测试的各项功能。(3)以可编程逻辑器件为核心进行了一些典型数字电路的故障模拟仿真试验,并建立相应的电路故障测试集数据库,为这些电路的可测试性研究提供...  (本文共68页) 本文目录 | 阅读全文>>

哈尔滨工业大学
哈尔滨工业大学

面向MVI的SOC测试调度方法研究

随着系统芯片(SOC,System on Chip)集成度提高、功能复杂度增加,低功耗SOC设计成为了主流的设计理念。多电压域(MVI,Multiple Voltage Island)的SOC通过动态电压调整技术(DVS,Dynamic Voltage Scaling)实现大幅度的降低系统动态功耗。然而,MVI的SOC测试挑战成为了限制其发展的瓶颈问题。在保证测试故障覆盖率的前提下,如何高效完成系统级MVI的SOC测试成为了研究的热点和难点问题。MVI的SOC测试具有测试任务多、任务间约束条件多等特点。本文从MVI的SOC最小测试单元的测试时间优化、测试资源分配优化、测试任务间约束这三个方面着手来提高MVI的SOC测试效率、降低其测试时间成本。MVI的SOC最小测试单元是可复用IP核。为降低MVI的SOC最小测试单元的测试时间,本文分析研究了IP核扫描链平衡设计技术并提出了基于动态参考值和平均值的二次分配算法。国际标准测试集IT...  (本文共76页) 本文目录 | 阅读全文>>

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