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关于半导体吸收边附近的三阶非线性光学常数

本文分析了半导体在吸收边附近,由于带间跃迁的饱和效  (本文共6页) 阅读全文>>

《浙江大学学报》1982年03期
浙江大学学报

吸收薄膜的光学常数测量(Ⅱ)

本文叙述用椭园偏振法测量金属簿膜的光学常数。我们利用对金属厚膜...  (本文共7页) 阅读全文>>

《光学工程》1977年03期
光学工程

根据反射率测量确定薄膜的紫外光学常数

薄膜的光学常数可用两类方法来确定:(a)偏振法;(b)光度法。偏振测量法是测定:...  (本文共4页) 阅读全文>>

《半导体技术》1979年Z1期
半导体技术

椭圆仪多入射角法研究半导体离子注入层光学常数

本文概述了椭园仪在研究半导体表面离子注入层的应用,并给出了用椭园仪多入射角法测得的砷化镓单晶抛光面的光学常数及离子注入硅表面的光学...  (本文共11页) 阅读全文>>

《兵器激光》1981年03期
兵器激光

吸收薄膜光学常数的计算

提出一种精确快速的计算方法,用以计算镀在透明基片上的吸收...  (本文共5页) 阅读全文>>

《应用光学》2018年06期
应用光学

采用椭偏法结合分光光度法研究极薄银的光学常数

极薄银在滤光片、高反射镜等中有广泛的应用,其光学常数严重影响着膜系的特性。在室温条件下,采用电阻热蒸发技术分别在硅和玻璃基底上沉积5.3nm~26nm不同厚度的极薄银薄膜,用TalySurfCCI非接触式轮廓仪测量了薄膜的厚度,研究了不同厚度银薄膜的光学常数n和k。镀制厚度5.3nm、7.9nm、14.1nm、26.0nm的银薄膜,结果显示极薄银的光学常数...  (本文共6页) 阅读全文>>