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利用微电子测试图形监控CCD工艺

本文根据硅CCD摄像器件的特点和要求,设计出一套可用来监控硅CCD工艺的测试图形,并把此套图形应用于实际的CCD工艺。实验分析其它工艺参数的同时,重点对存贮时间Tc和界面态密度Ns  (本文共12页) 阅读全文>>

《华东师范大学学报(自然科学版)》1988年03期
华东师范大学学报(自然科学版)

用于双极型工艺认证的微电子测试图形研究

本文提出一种用于科学地评价双极型半导体器件(npn或pnp晶体管)工艺水平的微电子测试图形。该测试图形由物理分析及工艺参数测试结构、器件...  (本文共6页) 阅读全文>>

《微电子学》1992年03期
微电子学

一种CMOS微电子测试图形的设计

本文介绍一种CMOS集成电路微电子测试图形——E2-PED,它是针对CMOS EEPR-OM电...  (本文共6页) 阅读全文>>

《微电子测试》1994年04期
微电子测试

《微电子测试》1994年总目次

1994年第8卷第1期(总第27期)(1)测试生成算法···……向东魏道政3(2)自动测试图形生成的并行处理技术...  (本文共1页) 阅读全文>>

《微电子测试》1995年04期
微电子测试

1995年《微电子测试》总目次

1995年第9卷第l期(总第32期)1995年第9卷第3期(总第33期)(l)微机和测量仪器系统的PnP标准”·…李锦林3...  (本文共1页) 阅读全文>>

《电子测量技术》1987年03期
电子测量技术

《微电子测试》创刊

《微电子测试》是我国第一个微电子信息系统计算机辅助测试(CAT)技术方面的专业期刊,于今年九月...  (本文共1页) 阅读全文>>