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CR系统空间频率处理对影像质量影响的探讨

目的 :研究变化计算机X线摄影系统后处理中的空间频率参数 :频率等级和增强强度对输出影像噪声特性总的威纳频谱的影响。方法 :利用常规X线机对成像板曝光 ,固定其它后处理参数 ,仅变化RN、RE ,获取总的WS抽样照片 ,用显微密度计扫描 ,通过快速付立叶变换计算总的WS。结果 :( 1)在主扫描方向上总WS值的高频区 (ω =2 .5Lp/mm左右 )出现峰值 ;( 2  (本文共4页) 阅读全文>>

《机械工艺师》2001年03期
机械工艺师

快速成型制造中扫描方向的研究

对快速成型中的零件扫描方向进行研究,从理论和实践上论证了沿...  (本文共2页) 阅读全文>>

《现代雷达》2005年07期
现代雷达

中场测量相控阵扫描方向图的方法研究

有源相控阵天线的发射和接收天线的性能依赖于阵面口径的幅相分布,有源相控阵的幅相校准工作通常在出厂前通过暗室中的平面近场测量...  (本文共3页) 阅读全文>>

《中国激光》2012年01期
中国激光

线结构光三维测量系统扫描方向的标定

提出一种基于平面标靶的线结构光三维传感器扫描方向的标定方法。利用平面标靶对摄像头进行标定,得到摄像头的内部参数,将棋盘格平面标靶固定在空间某一位置,测量系统沿着扫描方向移动并采集一系列图像。根据...  (本文共5页) 阅读全文>>

《中国激光》2019年08期
中国激光

扫描方向对变厚度熔覆成形件组织与力学性能的影响

针对于激光熔覆沉积成形工艺引起的拉伸强度各向异性的问题,基于变厚度熔覆层沉积方式,探究扫描方向(从高到低和从低到高)对斜坡薄壁件微观组织和力学性能的影响。测试斜坡薄壁件不同位置的拉伸强度和硬度,分析其微观组...  (本文共7页) 阅读全文>>

《中华放射学杂志》2002年05期
中华放射学杂志

计算机X线摄影系统中总威纳频谱测试的探讨

目的 研究计算机X线摄影 (computedradiography,CR)系统中总威纳频谱 (Wienerspectrum ,WS)随影像处理的变化。方法 利用常规X线机对成像板 (imagingplate,IP)曝光 ,改变空间频率处理的参数频率等级 (frequencyrank ,RN)、频率类型 (frequencytype,RT)、增强强度 (degreeofenhancement,RE)以及谐调处理参数旋转量 (rotationamount,GA)来制作总的WS抽样照片 ,用显微密度计扫描 ,通过快速傅立叶变换来计算总的WS。结果  (1)当空间频率为 1 0LP/mm时 ,副扫描方...  (本文共4页) 阅读全文>>