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我学者率先实现高精度量子相位测量

本报讯 记者从中国科技大学获悉,该校中科院量子信息重点实验室郭光灿院士领导的量子光学小组实现了高精度的  (本文共1页) 阅读全文>>

权威出处: 科技日报2008-05-01
《光学仪器》2008年03期
光学仪器

我学者率先实现高精度量子相位测量

最近从中国科技大学获悉,该校中科院量子信息重点实验室郭光灿院士领导的量子光学小组实现了高精度的量子相位测...  (本文共1页) 阅读全文>>

《中北大学学报(自然科学版)》2016年05期
中北大学学报(自然科学版)

变频信号的自适应相位测量系统设计

相位是传感器响应周期性物理量的重要参数,相位变化量的高精度测量可以提供更加详细的物理信息.针对现有相位测量方法不能自适应描述信号细节的问题,以及存在传感器输出变频信号时,高频信号的相位测量值比低频信号少的问题,设计了基于压控振荡器控制技术的自适应相...  (本文共5页) 阅读全文>>

北京交通大学
北京交通大学

基于压缩光干涉仪的量子相位测量理论

量子度量是对量子系统物理参数进行高分辨、高灵敏度测量的一门综合性学科。量子度量结合量子力学与统计力学理论,逐步发展为基础研究中的一个研究热点,另一方面,量子度量在引力波探测、量子成像、量子定位以及高精度原子钟等领域具有广阔的应用前景。量子度量的本质可以归结为相位测量和估值问题,其中相位测量精度依赖于探测态,相位积累方式,以及测量方案。对测量结果进行数据分析处理用于构造相位估计量。针对无偏估计量,它与相位真值的涨落存在Cramer-Rao下限(CR下限),由经典Fisher信息度量。量子相位测量的核心问题之一就是找到合适的探测态及最优测量方案,使得经典Fisher信息等于量子Fisher信息,且与探测态粒子数目平方成正比(即,所谓的海森堡极限)。本文基于压缩光干涉仪,研究光子计数测量和双输出零拍(Homodyne)探测,分析这两种测量方案对输出信号及相位灵敏度的影响。具体取得如下原创性研究成果。1.针对压缩光干涉仪的光子计数测量,...  (本文共122页) 本文目录 | 阅读全文>>

重庆大学
重庆大学

基于多频外差的全频相位轮廓术参数优化及精度提升

随着“工业4.0”、“中国制造2025”等概念的相继提出,制造业对更精确、更高效的三维测量技术的需求日益增长。基于相位测量轮廓术的面结构光三维测量技术作为光学三维测量领域的重要分支,也在工业测量领域得到了广泛的应用。由于相位测量轮廓术的测量精度受限于光学及电子元器件的物理特性及加工精度,因此对相位测量轮廓术进行误差分析与方法改进具有重要的理论意义和广泛的应用价值。本文在相位误差分析的基础上,提出相位测量轮廓术的改进方法,即基于多频外差的全频相位轮廓术。为提高全频相位轮廓术的测量精度,本文提出了相应的参数优化及误差补偿方法。首先,本文根据相位测量轮廓术的应用过程建立相位误差模型,包括模数转换离散误差、投影仪非线性响应误差、投影仪离焦误差及环境光误差。在误差分析的基础上,推导了相位误差与基于多频外差原理的相位展开算法的约束关系,并通过仿真分析进行验证。然后,本文提出基于多频外差原理的全频解相方法,利用多频外差原理中冗余的相位信息提高...  (本文共87页) 本文目录 | 阅读全文>>

西华大学
西华大学

锡膏三维在线检测中相位测量轮廓术的研究

随着微电子技术的不断发展,电子元器件的体积越来越小,印刷电路板的集成度越来越高,在印刷电路板生产过程中表面贴片安装技术逐渐替代传统的插孔安装技术。表面贴片安装技术的第一道工序是印刷锡膏,锡膏的印刷质量直接影响印刷电路板的质量。通过对印刷锡膏的在线检测,一方面可以将检测到印刷锡膏有瑕疵的电路板及时进行返修,降低印刷电路板的生产成本;另一方面可以将分析得到的印刷锡膏出现瑕疵的原因反馈到锡膏印刷工序,优化和锡膏印刷质量相关的工艺参数,进而提高印刷锡膏的质量。锡膏印刷的厚度是判断锡膏印刷质量的重要指标之一,锡膏厚度的检测目前主要采用机器视觉中的三维检测技术,而三维检测中主要采用相位测量轮廓术。相位测量轮廓术主要包括正弦光栅投影、相位展开、相位-高度标定和三维重建等技术,其中相位展开是最关键的环节,直接关系到三维在线检测的速度和精度。首先介绍了相位测量轮廓术的原理,然后分别对行列逐点法、枝切法、质量图导向法和最小二乘法等常用相位展开算法的...  (本文共70页) 本文目录 | 阅读全文>>

苏州大学
苏州大学

相位测量轮廓术在3D锡膏检测仪中的应用研究

随着表面贴装技术(SMT)的进一步发展与应用,精密电子制造正朝着高密度、高性能的方向发展。但产品的在线质量检测成为SMT产线的薄弱环节,尤其是产线的第一道工序锡膏印刷环节,贴片安装电子产品的缺陷有80%以上是由锡膏印刷质量缺陷引起的。本文在研究国内外最新锡膏检测仪(SPI)的基础上,对基于相位测量轮廓术(PMP)的SPI关键技术进行相关研究:(1)建立基于PMP的三维测量系统,完成锡膏的三维检测。首先进行正弦光栅投影,然后采用四步相移算法进行相位提取,接着通过合适的相位展开算法求取相位差,最后采用多项式拟合算法完成相位-高度系统标定。该系统能够快速、精确地完成锡膏的三维重建,检测精度高,通过三方认证校准块的验证,平均检测误差可达1μm。(2)提出一种改进的相位差求取算法,该算法通过光栅条纹宽度确定检测量程,在原始相位展开算法的基础上,去除“拉线”影响,从而能快速、精确地求取相位差。实验证明,该算法不仅能够满足PMP算法中相位展开...  (本文共87页) 本文目录 | 阅读全文>>