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基于SOC架构的可测性设计方法学研究

本论文的研究课题为片上系统(System on a Chip,简称SOC)环境下的可测性设计方法学研究。早期的集成电路测试主要通过功能测试向量来完成,但随着系统复杂度的不断提高和工艺技术的日益发展,可测性设计已经成为了集成电路设计所必不可少的辅助设计手段。本论文的工作目标是针对集成电路设计和制造技术的发展新趋势,构建适应SOC设计的可测性设计解决方案。扫描类可测性设计方法是目前应用最为广泛,同时也是最具技术优势的可测性设计技术。因此本论文选择了基于扫描的可测性设计方法作为研究的出发点。但随着设计和工艺技术的发展,扫描设计方法需要进一步的优化完善才能适应集成电路技术整体的发展趋势。本论文的工作主要针对SOC设计环境对扫描设计方法在测试功耗以及测试时间方面提出的新要求,提出了一套包括从内部结构设计到外部数据处理的可测性设计解决方案。首先,从优化测试功耗的角度出发提出了扫描阵列结构,通过加入Wrapper测试控制结构以及构建并行化的分  (本文共111页) 本文目录 | 阅读全文>>

《电子测量技术》2019年06期
电子测量技术

基于测试系统的测试向量工具设计研究

测试向量工具作为集成电路测试系统软件的重要组成部分,其性能直接影响整个自动测试系统的工作效率。通过分析确定了测试向量工具的功能结构,研究了开发测试向量工具的关键技术,并重点对比了使用Tab...  (本文共5页) 阅读全文>>

《上海交通大学学报》2019年10期
上海交通大学学报

基于人工蜂群的硬件木马测试向量生成方法

针对已有测试向量生成方法对以电路惰性节点作为输入的硬件木马触发覆盖率低的问题,提出了一种基于人工蜂群的测试向量生成方法.首先分析了用于触发惰性节点组合的测试向量的分布规律,并构建数学模型对其进行描述;然后利用人...  (本文共7页) 阅读全文>>

《计算机研究与发展》2019年11期
计算机研究与发展

基于极小碰集求解算法的测试向量集约简

自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值,在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAX ATPG 2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具,可以在很短的时间内生成具有高故障覆盖...  (本文共10页) 阅读全文>>

《电子测量与仪器学报》2016年12期
电子测量与仪器学报

最大近似相容的分组测试向量相容压缩方法

针对长度过长的测试向量之间相容压缩的压缩效果不佳的问题,为了提高测试向量间的相容性,提出了最大近似相容的分组测试向量相容压缩方法。首先将测试向量按相同的数据块长度划分为若干组,然后提出对分组测试向量进行最大近似相容性的重排序,将测试集分为两个集合:已排序集合和未排序集合。先将确定位最多的测试向量作为已排序集合的首个测试向量,再对已排序集合的最后一个测试向量和未排序集合的所有测试向量进行...  (本文共8页) 阅读全文>>

《微电子学与计算机》2017年04期
微电子学与计算机

基于失败向量信息的难测固定故障测试向量生成

针对数字电路中难测固定故障测试向量生成效率低的问题,基于失败向量信息实现难测固定故障的测试向量生成.该方法利用难测固定故障失败...  (本文共6页) 阅读全文>>