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数字集成电路电流测试技术研究

集成电路(IC)被生产出来以后要进行测试。IC测试贯穿在IC设计、制造、封装及应用的全过程,被认为是IC产业的4个分支(设计、制造、封装与测试)中一个极为重要的组成部分,它已经成为IC产业发展中的一个瓶颈。有人预计,到2012年,可能会有多达48%的好芯片不能通过测试,IC测试所需的费用将在IC设计、制造、封装和测试的总费用中占80%~90%的比例。工业界常采用电压测试和稳态电流(I_(DDQ))测试来测试数字CMOS IC。电压测试包括逻辑测试和时延测试两方面的测试内容,前者验证IC的功能是否正确,后者验证IC的时间特性是否正确。电压测试方法可以检测出大量的物理缺陷,而且比较简单,速度较快。但是,由于电压测试所使用的故障模型存在局限性,而且测试常常不能全速进行,因此一般来说,电压测试只善于验证电路的功能。与电压测试相比,(I_(DDQ))测试更善于检测由于生产过程中的细微偏差而导致的一些“小”缺陷,它的最大优点是能大幅度地降低  (本文共110页) 本文目录 | 阅读全文>>

《电气电子教学学报》2020年01期
电气电子教学学报

数字集成电路课程案例教学模式的探索与实践

"数字集成电路设计与验证"是一门微电子方向研究生重要的学科基础课,具有很强的工程实践性。如何让学生全面掌握整个数字集成电路设计流程及设计方法并具备分析和解决问题...  (本文共4页) 阅读全文>>

《电子技术与软件工程》2018年17期
电子技术与软件工程

数字集成电路设计原理和应用

随着时代的发展,科技的进步,微电子技术对于各行各业的发展起到了极大的推进作用。数字集成电路作...  (本文共1页) 阅读全文>>

《课程教育研究》2014年34期
课程教育研究

数字集成电路设计教学方法探讨

通过数字集成电路设计理论课和实验课教学的实践经验及教学研究心得,以某高校电子科学与技术本科专业为例,分析...  (本文共1页) 阅读全文>>

《实验教学与仪器》1998年Z1期
实验教学与仪器

使用通用数字集成电路应注意的几个问题

通用数字集成电路包括两大类:一类是晶体管一晶体管逻辑数字集成电路,即TTL集成电路;另一类是互补一对称金...  (本文共2页) 阅读全文>>

《无线互联科技》2015年18期
无线互联科技

数字集成电路系统基本构成与测试技术研究

随着集成电路技术的飞速发展,集成电路的设计和制造也变得更加复杂。目前,数字集成电路系统成为研究的主流,并且在很多方面都表现出了较大的积极作用。相对而言,数字集成电路系统的优化速度较快,尤其...  (本文共2页) 阅读全文>>