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MOSFET的电离辐照效应

本文研究了MOSFET的电离辐照效应,给出了辐照在MOSFET栅介质中引起氧化物电荷对阈电压的贡献与辐照剂量和栅偏置电场的相互依赖关  (本文共7页) 阅读全文>>

西安电子科技大学
西安电子科技大学

硅基MOS器件的电离辐照效应分析

随着集成电路在辐射环境下的应用越来越广泛,研究半导体器件和电路电离辐射效应的损伤机理,提高其抗辐照水平成为近年来国内外微电子学领域的重要课题。硅基器件作为集成电路的基础,其抗辐照能力成为研究的重点。本文首先介绍了主要的电离辐照效应——总剂量效应,分析了MOS器件总剂量效应产生的机理和造成的损伤。阈值电压漂移是电离辐照总剂量效应对MOS器件产生的主要损伤。通过数值推导,建立MOS器件电离辐照效应阈值电压漂移量与辐照总剂量之间关系模型,并利用ISE软件模拟仿真辐照过程,对模型进行验证。此外,分析了SOI结构的优势和在抗总剂量辐照效应方面存在的缺陷,推导出SOI结构电离辐照效应阈值电压漂移量与辐照总剂量之间关系模型,并利用IES软件进行仿真验证。最后讨论了SOI结构电离辐照效应阈值电压漂移量与器件偏置条件的关系,并通过ISE软件的模拟仿真。  (本文共57页) 本文目录 | 阅读全文>>

西安电子科技大学
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基于1/f噪声的MOSFET抗辐照能力无损表征方法

随着大量商用高性能半导体器件用于宇航、核能等领域,越来越多的未加固MOSFET需要在核辐射条件下工作,为了在保证使用的可靠性的同时尽可能的降低成本,人们迫切需要一种可靠,快速,成本低廉的无损伤辐照效应预测方法来代替传统的辐射退火晒选方法。本文介绍了MOS器件电离辐照效应及1/f噪声物理机制,在此基础上,进行了噪声与电离辐照相关性的试验,获取了大量辐照前后MOS器件的电参数及噪声参数数据,并对MOS器件抗辐照能力的1/f噪声表征进行了深入研究,取得了以下研究成果:1、对不同沟道类型和沟道尺寸的MOSFET进行了~(60)Coγ辐照实验,发现辐照前1/f噪声与辐照引起阈值电压漂移、跨导退化及栅泄漏电流增加之间有明显的相关性。理论分析表明,电离辐照在MOS器件栅氧化层中激发的电荷会被Si/SiO_2系统中缺陷所俘获形成陷阱电荷,这些陷阱电荷的存在导致器件电参数发生改变,严重的还引起器件的实效。由于1/f噪声反应了栅中缺陷数目的多少,也...  (本文共58页) 本文目录 | 阅读全文>>

《微电子学》1984年05期
微电子学

短沟道MOSFET中的电离辐照效应模型

用一种电荷层方法模拟了离化辐照对短沟道MOSFET的影响。离化辐照的主要效应是引入了氧化层捕获电荷(OTC)和界面捕获电荷(ITC)。应用二维电荷层模型,研究了沟道长度在4.65μm和0.27μm之间的晶体管。用±4.0×10~(11)cm~(-2)的净OTC和ITC值范围,相应于10~6拉德左右的剂量(SiO_2)来研究总的剂量效应。...  (本文共5页) 阅读全文>>

西安电子科技大学
西安电子科技大学

用于筛选的VDMOS器件抗辐照能力表征参量研究

近年来,随着对电子元器件低频噪声的深入研究,人们发现低频噪声能敏感地反映电子元器件内部潜在的缺陷。因此,可以用噪声来分析和表征电子元器件的质量和可靠性。与传统的方法相比较,噪声表征技术具有普遍适用性、高度灵敏性、非破坏性以及检测速度较快等优点。本文在电离辐照效应、1/f噪声产生物理机制等理论的基础上,进行了VDMOS器件的电性能测试、电离辐照实验以及噪声测试。获得了大量辐照前后VDMOS器件的电参数及噪声参数数据,并对VDMOS器件抗辐照能力的1/f噪声表征参量进行了深入研究,取得了以下研究成果:1.对不同沟道类型增强型的VDMOS器件、不同种类的军品和民品进行了60Co -g电离辐照实验,发现辐照前后1/f噪声的涨落与辐照引起阈值电压漂移、跨导退化之间有明显的相关性;2.对VDMOS器件在辐照前后电参数和噪声参数的比较,进一步从理论上分析了辐照前后阈值电压的漂移和线性区最大跨导的退化,从敏感性方面对两种表征方法做了比较,从理论...  (本文共61页) 本文目录 | 阅读全文>>

东南大学
东南大学

用于辐照效应测试的S波段收发系统

随着航空航天事业的快速发展,电子器件受空间环境辐射影响问题已成为研究的热点课题。目前针对电离辐照对射频通信系统的效应研究还局限于单一部件,针对整个射频系统辐照效应的研究工作并不多见。为了满足当前对完整射频系统辐照效应测试的需求,本文研制了可用于辐照效应测试的S波段收发系统,该系统拥有多个测试端口,具备器件易替换、电流可检测、工作状态即时可测可展示以及低成本的特点。本文的主要工作如下:1)明确了辐照效应测试对受试射频系统的具体要求和技术指标。分析了当前的辐照试验研究背景,针对目前射频系统辐射效应测试平台的发展情况,明确本系统应具备的功能以及特色之处,随后根据应用需求确定了该射频收发测验系统的设计指标。本系统每个分立模块均具备SMA接口,可完成单模块的参数测试,也能多模块级联测试,所有模块级联则实现完备的射频收发系统测试;为用于辐照效应试验,系统还应具有独立的电流监测模块与数据采集接口。2)提出了用于辐射效应试验的S波段收发系统的方...  (本文共84页) 本文目录 | 阅读全文>>

《中南民族学院学报(自然科学版)》1999年04期
中南民族学院学报(自然科学版)

固体辐照效应的模拟受到普遍重视

第4届固体中辐照效应计算机模拟国际会议于1998年9月15~19日在日本冈山举行.约130名代表在会上交流论...  (本文共3;页) 阅读全文>>