分享到:

光电耦合器的测试

本文概述了光电耦合器主要工作原理  (本文共4页) 阅读全文>>

电子科技大学
电子科技大学

高速光电耦合器的几个关键问题研究和测试系统搭建

光电耦合器是一种正向传输信号、反向隔离信号的单向隔离器件,其应用十分广泛,尤其是在可靠性要求较高的领域有着不可替代的作用。它问世于上个世纪六十年代,由于其体积小、隔离性好、可靠性高、成本低等特点,在问世之初便受到极大的关注。经过几十年的发展,光电耦合器集成程度越来越高、速度越来越快、隔离电压越来越高、器件体积越来越小、产品种类也越来越丰富。由于受到国外的技术封锁,国内光电耦合器的研究工作一直进展缓慢,尤其是在速度这一关键指标上国产光电耦合器至少落后国外产品4~5倍,因此在各领域光电耦合器仍然主要使用国外产品。为实现光电耦合器的国产化替代,我们团队在近年来对光电耦合器开展了深入的研究和试验。我们首先探索了光电耦合器的信号传输与隔离的原理,建立了相应理论模型;接着提出自己的研制思路,设计光敏芯片并基于这个芯片封装了一款可靠性高的高速光电耦合器;同时还基于源表使用单片机开发了针对这个光电耦合器的自动测试系统,对产品进行了测试和分析;对...  (本文共71页) 本文目录 | 阅读全文>>

电子科技大学
电子科技大学

晶体管输出型光电耦合器辐照及其噪声研究

随着航天技术、核能技术及其核武器等高新技术的发展需求,越来越多的光电子器件需要正常工作于辐照环境中。辐照在器件中引入大量的氧化层电荷、界面态电荷及体内位错等缺陷,导致电参数退化,从而引起器件暂时失效或永久性失效。因此为保障器件在辐照环境中能正常工作,必须研究器件的辐照损伤机理,研究不同辐照环境中器件的损伤程度并对器件的抗辐照能力进行预先评估及诊断。目前,器件抗辐照评估方法是辐射退火筛选,这种方法周期长,经费高,不可能做大量样品的破坏性辐照实验,更重要的是它不仅不能保证所有的被辐照的器件经过退火后都能够恢复其初始性能,还有可能在被测器件中引入新的潜在缺陷,使器件的可靠性降低。这迫切要求一种简单、快速且完全非破坏性的辐射筛选和抗辐射能力评估技术。光电耦合器以其体积小、寿命长、无触点、抗干扰性强等优点广泛地应用于航空航天及核技术等领域,因此急需研究光电耦合器在辐照环境中的失效机理及抗辐照评估方法。辐照在光电耦合器件内部引入缺陷,而噪声...  (本文共105页) 本文目录 | 阅读全文>>

电子科技大学
电子科技大学

高压隔离特性类光电耦合器的研制

光电耦合器的性能日趋稳定,种类越来越多,应用领域在不断地扩大。同时,在航空航天、导弹、雷达等军事应用上,对光电耦合器提出了10KV以上的隔离电压的要求,在此基础上,对线性度、驱动容性负载的能力以及可靠性都有很高的要求。本文正是根据上述应用需求,针对上述问题,以高压隔离特性类光电耦合器为研究对象,从器件的设计上和原材料上考虑,并对高压隔离特性类光电耦合器的稳定性、可靠性进行分析和设计,成功研制了三种不同的高压隔离特性类光电耦合器。在高压隔离特性类光电耦合器的研制上作了些探索性和创新性的研究。主要内容为:1、首先对光电耦合器的结构特点、封装形式、老化规律、隔离电压特性、基本参数及典型应用等作了详细的分析和总结,为进一步的研究打下了深厚的理论基础。2、采用有机硅凝胶作为灌封材料,同时使用陶瓷管座封装来实现10KV以上的隔离电压,成功研制了普通型高压隔离光电耦合器,并对该器件的性能进行了分析。该器件具有结构简单、工作稳定、速度快等特点,...  (本文共84页) 本文目录 | 阅读全文>>

哈尔滨工业大学
哈尔滨工业大学

GD4N24R型光电耦合器电子和质子辐射损伤效应研究

光电耦合器作为电信号与光信号的转化器件,是航天器电路中广泛应用的重要器件。器件在轨服役期间,会遭受到空间带电粒子辐射环境的显著影响,导致其性能退化,直接影响航天器在轨高可靠性。因此,探究光电耦合器的辐射损伤效应具有重要的工程实际意义和学术价值。本文以GD4N24R型光电耦合器为研究对象,基于低能、高能电子和高能质子辐照,利用半导体器件性能参数测试仪测试电性能的变化规律,并对辐照后的光电耦合器进行深能级缺陷测试及等温退火试验,探究电子和质子辐照下光电耦合器电性能退化的影响因素及损伤机理。试验结果表明,150 keV及1 MeV电子辐照条件下,随辐照注量的增加,红外发光二极管的电性能基本保持不变;150keV电子辐照时,在较低注量条件下,光电三极管及光电耦合器电性能变化不大,随着辐照注量的增加,电荷积累产生放电现象,导致光电三极管击穿,光电耦合器电性能大幅下降。1MeV电子辐照下,随辐照注量的增加,光电三极管基极电流增加,集电极电流...  (本文共72页) 本文目录 | 阅读全文>>

北京工业大学
北京工业大学

基于光电三极管输出型光电耦合器的可靠性设计

随着军用电子元器件和武器装备的发展,军用高可靠等级的光电耦合器越来越被广泛应用。如何从设计根源上保证产品的可靠性,避免产品先期失效,成为用户极为关心的问题。本论文介绍了光电耦合器的结构、组成及其功能,其输入端采用红外发光器件,输出端采用光电三极管,由管壳将输入和输出封装到一起,输入端与输出端采用上下对射式传输完成光电转换。本论文从发光二极管原理出发,推导了发光功率与输入正向电流的关系。根据光电三极管原理,推导了电流传输比(CTR)、基极电流、输入电流及放大倍数之间的相互关系。根据产品的工艺结构,研究了隔离电压的爬电方式以及影响隔离电压的关键因素。实验结果表明,管腿外引线顶部到金属焊框的距离以及陶瓷管座的内腔高度均与隔离电压成正比。通过对原材料及工艺的改进,成品测试隔离电压最小值为1.5kV,最大值2.1kV,平均值为1.75kV,满足了项目要求隔离电压大于1000V的指标要求,提高了产品可靠性。通过双极性晶体管的时间参数模型,推...  (本文共82页) 本文目录 | 阅读全文>>