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可测试性设计中的功耗优化技术

降低测试期间的功耗是当前学术界和工业界新出现的一个研究领域。在可测试性设计中进行功耗优化的主要原因是数字系统在测试方式的功耗比在系统正常工作方式高很多。测试  (本文共7页) 阅读全文>>

《空间控制技术与应用》2010年05期
空间控制技术与应用

航天器可测试性设计研究

在调研国内外可测试性技术发展历程的基础上,分析中国航天器可测试性设...  (本文共5页) 阅读全文>>

《信息工程学院学报》1980年10期
信息工程学院学报

系统级可测试性设计的研究

本文提出了一个系统级可测试性设计的方法,根据系统的功能行为描述和实际系统实现的明显区分,将与系统实现独立的测试要求...  (本文共3;页) 阅读全文>>

《中国集成电路》2002年08期
中国集成电路

可测试性设计技术

本文阐述了测试和可测试性设计的重要性,并对故障模型进行了分析,着重强...  (本文共6页) 阅读全文>>

《电子产品世界》2005年02期
电子产品世界

为产品可测试性设计DSP软件

随着数字信号处理器(DSP)性能的增强,设计师能够运用DSP的范围同DSP应用代码的复杂性也增加了。为了开发出基...  (本文共2页) 阅读全文>>

《计算机工程与应用》2000年11期
计算机工程与应用

可测试性设计中的优化问题及求解算法

近20年来,为了解决结构日益复杂的VLSI电路的测试问题,可测试性设计技术得到了迅速发展.在可测试性设计中,如何针对不...  (本文共3页) 阅读全文>>