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同步辐射X射线反射技术及其在测量δ掺杂晶体中原子表层深度分布的应用

X射线低角反射实验技术是测定固体材料表层中杂质原子深度分布的有效手段.利用同步辐射X射线反射技术和近年来发展的由反射实验数据逆向求解原子深度分布  (本文共6页) 阅读全文>>

华中师范大学
华中师范大学

基于Topmetal的束流剂量深度分布测量方法研究

精准探测碳离子束流剂量-深度分布是碳离子治癌中精确将束流剂量投放至病灶的重要依据。目前,束流剂量-深度测量:的方法主要有正电子发射断层扫描(PET)和瞬发光子探测,采用的探测器为闪烁体加光电倍增管或雪崩光电二极管结构,但存在几何死区和空间分辨率低的缺陷。半导体碲锌镉像素阵列探测器由于具备高的空间分辨率和探测精度,以及体积小等优势而成为当前研究热点。Topmetal是具有自主知识产权的能直接接收电荷的像素阵列读出芯片,其最大的优势就是具有低噪声和高的接收灵敏度。本文从闪烁体探测器出发研究基于Topmetal的高空间分辨率碲锌镉像素阵列探测器,进而着重探讨束流剂量-深度分布测量方法,旨在提高测量精度和灵敏度。主要研究内容包括:1.提出并设计了用于探测碳离子束流剂量-深度分布的闪烁体准直式瞬发光子探测器。通过模拟碳离子束打入水箱的物理过程,在分析产生次级光子和中子的出射位置、方向、能量等特性基础上,设计了准直器(铅层、石蜡、碳化硼),...  (本文共119页) 本文目录 | 阅读全文>>

中国工程物理研究院
中国工程物理研究院

聚变堆面向等离子体材料中氚滞留深度分布测量技术研究

聚变堆面向等离子体材料中滞留氚的测量是聚变研究领域的重要内容。准确评估面向等离子体材料中氚的含量和深度分布对聚变堆的燃料衡算和安全运行有着重要意义。钨是重要的候选面向等离子体材料之一,因其良好的物理性能和极低的燃料滞留量,很有可能作为未来聚变反应堆的面向等离子体材料使用。但目前针对钨材料中氚测量的实验较少,缺乏成熟、可靠的分析方法,尤其是针对聚变堆真实环境下钨中氚的测量技术研究。在真实聚变堆环境下,面向等离子体材料中氚的测量问题与实验室仅用氚开展实验有很大区别,一方面壁材料在高通量、高能聚变中子的辐照下会产生大量中子活化产物,这些活化产物的β、β射线将会与氚β射线共存,这对当前仅针对氚环境下建立的材料中氚的测量方法提出了新的挑战;另一方面,真实环境下面向等离子体材料表面的氚分布往往是不均匀的,这样的平面非均匀分布也将会影响氚深度分布的测量结果。此外,虽然前期研究中已有使用轫致辐射谱重建氚深度分布的方法(即β射线诱发X射线谱分析法...  (本文共119页) 本文目录 | 阅读全文>>

北京交通大学
北京交通大学

一类环上的码及其深度分布

随着现代社会通信技术的不断进步,编码理论也在迅速发展壮大.1994年,Hammons等人的研究表明,一些性能优异的非线性码可以作为有限环上的码在Gray映射下的像.他们的发现拓宽了线性码的研究领域,人们期待在有限环上构作出更多性质优良的码.近十年,随着有限链环上编码理论的日趋完善,人们开始关注有限非链环上码的研究.由于有限非链环结构的局限性,所以其上码的研究较为困难,目前关于它的研究成果还不是很多.自对偶码是一类特殊的线性码,它的构作方法多种多样,由于其自身良好的特性,一直是编码领域的研究热点.另一方面,码字深度是体现码字复杂性的一个重要指标,也是研究序列线性复杂度的重要工具,对于线性码的构造和分类具有重要作用.因而,自对偶码和码字深度的研究具有重要的理论意义.本文将研究一类有限非链环R=Fq+vFq+v2Fq(v3=v)上的码及其深度分布.首先,通过构造Gray映射和定义相关射影,将环R上的码与域Fq上的码建立联系,给出了环R...  (本文共46页) 本文目录 | 阅读全文>>

《南通大学学报(自然科学版)》2006年02期
南通大学学报(自然科学版)

氮在金表面的浓度深度分布的动态计算及其应用

介绍了20多年来金膜强化的历程,分析了以前氮化金没有合成成功的原因,应...  (本文共3页) 阅读全文>>

《核技术》1971年00期
核技术

采用弹性反冲分析法同时测量薄膜中氢和氘的深度分布

给出由重叠反冲能谱计算氢和氘的浓度及深度分布的解谱技术。用4.5MeV和4.2MeV的α粒子作入射...  (本文共4页) 阅读全文>>