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一种通道式布图算法及SC电路版图设计系统的研究

本文描述了一种通道式布图算法及由此实现的开关电容(SC)电路的版图设计系统——LING85。该系统采用积木块式的元胞,行陈列的模式结构。用一维相  (本文共9页) 阅读全文>>

《中国集成电路》2017年07期
中国集成电路

基于加速度计产品的ASIC版图设计和验证

ASIC(Application Specific Integrated Circuit),是一种为了专门目的而设计的集成电路。ASIC版图设计是把AS...  (本文共8页) 阅读全文>>

《黑龙江科技信息》2015年35期
黑龙江科技信息

《集成电路版图设计》教学改革探索

本文独创性地提出了以"LDO版图设计"为载体的《集成电路版图设计》项目化教...  (本文共1页) 阅读全文>>

《工业和信息化教育》2015年04期
工业和信息化教育

基于工作室模式的项目化版图设计课程教学的研究

当前不少高职院校都开设了"集成电路版图设计"这一门课程。针对目前版图设计课程授课的现状,江苏信息职业技术学院集成电路设计工作室,实施了基于工作室...  (本文共6页) 阅读全文>>

《福建电脑》2009年04期
福建电脑

集成电路版图设计的技巧

集成电路版图设计是把设计思想转化为设计图纸的过程,包括数字电路和模拟电路设计。本文针...  (本文共2页) 阅读全文>>

湖南大学
湖南大学

基于深度学习的电路版图光刻热点检测技术

随着超大规模集成电路技术的飞速发展,晶体管的特征尺寸变得越来越小,电路设计版图也越来越复杂,给电路光刻技术带来了巨大的挑战。当前光的波长已达到了193nm限制,远远大于晶体管现有的特征尺寸,当我们将标准的电路设计版图刻录到硅晶片上时,在光的衍射作用下硅晶片上的电路图案会产生某些缺陷模式,这些缺陷模式被称为热点。这些热点极有可能在电路的运行中产生开路或短路现象,烧毁电路,导致芯片成品率降低,带来巨大的经济损失。虽然芯片制造行业提出了多种多样的生产设计技术,如设计检验规则、光学临近矫正、多重光刻等,但版图热点仍然不能被消除。因此,在将电路版图转移到硅晶片之前,必须对整个电路版图进行检测,准确找出那些在刻录后容易产生热点的区域,对其进行修正。传统的热点检测方法包括:仿真模拟,模式匹配,以及机器学习,但随着集成电路规模越来越大,设计电路越来越复杂,传统的检测方法已不适用。本文提出了一种基于FFT特征提取及深度学习热点检测模型,它能够有效...  (本文共64页) 本文目录 | 阅读全文>>