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用X射线荧光光谱法非破坏测定多元合金薄膜的组分和厚度

本文用X射线荧光光谱法,不破坏样品,测定三元合金薄膜的组份。此法无需制备任何相似的固体标样或纯元素的块状标样,而是利用含已知组份的滤纸片作为标样。滤  (本文共5页) 阅读全文>>

《物理》1982年01期
物理

X射线荧光光谱法非破坏测定二元合金薄膜的成分

一、引 言 用X射线荧光光谱法测定二元合金薄膜的组分时,通常是先制备一系列不同成分的薄膜,经化学分析标定后作...  (本文共3页) 阅读全文>>

权威出处: 《物理》1982年01期
《Transactions of Nonferrous Metals Society of China》2015年06期
Transactions of Nonferrous Metals Society of China

黑色Ni-Co合金薄膜的制备及其形貌和结构特征(英文)

研究在Watts镍溶液中电沉积制备黑色Ni-Co合金薄膜以及苯并三唑和咪唑作为添加剂对电沉积薄膜的影响。电解液由NiS O4、Ni Cl2、H3BO3、CoS O4和KNO3组成。用标准方法测试溶液的阴极电流效...  (本文共7页) 阅读全文>>

《原子能科学技术》2002年Z1期
原子能科学技术

惯性约束聚变用合金薄膜靶制备方法

阐述了与制备惯性约束聚变 (ICF)用合金薄膜靶有关的理论和方法 ,讨论了I...  (本文共5页) 阅读全文>>

《化工新型材料》1990年05期
化工新型材料

日本电气化学出售PVDF合金薄膜

电气化学工业公司企业部研制成功以PVDP(聚偏氟乙烯)为基材的合金薄膜《デンカDX薄膜》并开始投放市场。这种合金薄膜是利用这...  (本文共2页) 阅读全文>>

北京科技大学
北京科技大学

高熔点多基元合金薄膜的设计及性能

多基元合金由于具有高强度及优异的相稳定性,在耐热硬质涂层及光热转化涂层上具有潜在的应用前景。然而目前对于多基元薄膜合金热稳定性及力学性能的研究较少,对其相结构的预测并不完善,极大地限制了多基元合金薄膜的应用与发展。同时由于其成分复杂,采用传统方法研发效率较低。为解决这些问题,本论文通过成分调整及高通量筛选的方法研究了磁控溅射多基元合金及其氮化物薄膜随温度及元素变化的组织结构演变,性能上主要研究了力学性能、热稳定性以及光热转化效率的变化规律。主要工作如下:提出了薄膜的相形成参数ΩT,并将该参数应用于NbZrTiSiAlNx、NbZrFeCoNiNx与(Ta0.5W0.5)100-x(Cr0.33Fe0.33V0.33)x三种多基元合金薄膜的成分设计,验证了其可靠性。NbZrTiSiAlNx多基元薄膜,在600℃温度下具有良好的相稳定性,能够长时间地保持非晶相而不发生晶化。在900℃温度下,NbZrTiSiAl多基元合金薄膜仍能够保...  (本文共139页) 本文目录 | 阅读全文>>