分享到:

低功耗测试序列生成电路的建模及分析

为了解决深亚微米、SOC和低功耗电路中的测试问题,低功耗测试序列RSIC序列的生成方法得以研究和发展。文章提出关于RSIC序列生成电路的建模和分析理论。其研  (本文共4页) 阅读全文>>

《西安交通大学学报》2007年02期
西安交通大学学报

一种基于测试序列失败树的动态测试方法

针对传统的测试方法按照静态的顺序执行预先生成的固定测试集,而实际测试范围可能被缩小,同时测试结果受到测试序列间、测试序列内的影响等问题,提出了一种构造测试序列失败树(TSFT)并用其指导动态测试的方法.该方法考虑到了测试序列之...  (本文共5页) 阅读全文>>

《电子科技大学学报》2000年02期
电子科技大学学报

VLSI功能测试的最佳测试序列的选取

介绍了VLSI功能测试向量生成的Petri网模型和Petri网模拟测试序列中指令的关系,构造了压缩存储网络...  (本文共4页) 阅读全文>>

湖南大学
湖南大学

基于依赖关系与切片的测试序列优化研究

软件测试过程中由于测试用例间存在依赖关系,导致用例执行顺序对测试结果产生一定影响。现有的针对测试用例序列优化的研究,基本上是集中于如何采用最小化的测试用例集来达到最高的覆盖率,或是通过对每个测试用例赋予不同的权值来表示测试用例的重要程度,而对于测试用例之间的相互影响(依赖关系)分析较少。针对测试用例执行过程中由依赖关系所引起的错误测试结果,本文提出了一种基于依赖关系切片的测试序列生成方法(GSODS)。通过提取测试用例集对应的依赖关系构造依赖关系环集,以最大切环方式迭代分割,得到一个不含依赖关系环的测试用例切片,重复该步骤直至获得所有测试用例切片;对测试用例切片集,求出切片内各测试用例的节点依赖值并逆序排列,生成测试序列。本文主要工作如下:(1)获取测试用例切片:在划分切片前,建立数据库应用系统中测试冲突对测试用例的影响,完成依赖关系及依赖关系环相关理论的论证。在获得切片过程中,以切环方式分割依赖关系环集,在保证分割子集满足切片...  (本文共62页) 本文目录 | 阅读全文>>

《西南交通大学学报》2020年03期
西南交通大学学报

铁路信号安全关键软件的组合测试序列集约简

针对现有铁路信号系统安全关键软件t-路组合测试序列生成方法在处理大规模输入时产生冗余测试序列,导致测试执行成本较高的问题,提出了一种基于贪婪-粒子群混合优化算法的t-路组合测试序列集约简方法,用于降低序列集的执行成本.首先,以执行成本最低为约简目标,建立针对t-路组合测试序列...  (本文共8页) 阅读全文>>

《徐州师范大学学报(自然科学版)》2008年01期
徐州师范大学学报(自然科学版)

改进的基于唯一输入输出序列的测试序列自动生成算法

协议一致性测试中,测试序列一般只能做到半自动生成,其全自动生成问题一直没有得到完全解决.针对此,提出一种改进的基于UIO序列(Unique input/output sequences)的...  (本文共4页) 阅读全文>>