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可靠性筛选

本文简述可靠性筛选的方法、项目、  (本文共20页) 阅读全文>>

电子科技大学
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瞬态电压抑制二极管可靠性筛选工艺研究

瞬态电压抑制二极管(Transient Voltage Suppression Diode)简称TVSD。它是为了解决电子设备中电路通断、静电放电以及电磁干扰产生的电压瞬变和电流浪涌等问题而设计出的一种高性能保护用器件,是电子电路中最重要的电子元器件之一,已广泛地应用于各种民用和军用电子产品中。特别是在航天、航空和军用装备等领域的应用中,对其可靠性的要求已变得越来越高了。产品在使用时发生失效,可能会造成非常严重的损失,甚至于会造成人员伤亡。而可靠性筛选可以发现工艺不良情况或缺陷产品,剔除具有潜在缺陷的零部件或产品,淘汰早期失效期产品,降低提交批产品失效率,协助完善产品的设计和生产工艺控制,提高产品的质量和可靠性水平。可靠性筛选是现代高科技电子产品生产中普遍采用的一种质量与可靠性保证方法。本文正是针对瞬态电压抑制二极管的可靠性筛选问题,以设计研发、批量生产、维持与改进等阶段中可靠性筛选的应用为主要研究对象,在深入分析瞬态电压抑制二...  (本文共77页) 本文目录 | 阅读全文>>

吉林大学
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太阳能电池的E_n-I_n噪声模型构建与可靠性筛选方法研究

随着太阳能电池在人类社会的广泛应用,尤其是作为供电系统的重要组成部分应用于在轨运行的空间站、宇宙飞船以及人造卫星等高端应用领域,并且这些实际应用环境与太阳能电池的生产测试环境相比差别较大,因此自太阳能电池问世以来,其可靠性研究一直在持续进行。低频噪声作为一种高效、无损的方法,一直是半导体器件可靠性研究的重要工具之一。低频噪声源于半导体器件内部载流子的无规则运动,不可避免,而过激低频噪声则是表征器件可靠性的重要指标。目前,已经发现太阳能电池中存在的过激噪声有1/f噪声,G-R噪声,RTS噪声以及猝发噪声,其中后三种类型的低频噪声在频域均表现为G-R谱,而RTS噪声与猝发噪声则在时域上表现为明显的持续时间不同而幅度相近的脉冲序列。虽然,国内外对于基于低频噪声的太阳能电池可靠性筛选有了初步的研究,但通过阅读大量的文献发现,目前研究还存在如下问题:(1)对于太阳能电池的低频噪声有了一定的认识,但是却未研究其实际的电信号表现形式,及其对短...  (本文共71页) 本文目录 | 阅读全文>>

吉林大学
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太阳能电池低频噪声测试系统设计及其可靠性筛选方法研究

太阳能是人类取之不尽用之不竭的可再生能源,同时也是一种清洁能源。在太阳能的有效利用中,太阳能电池是近年来发展最快、最具活力的研究领域。目前,太阳能电池的应用已经从军事和航天领域进入工业、商业、农业以及公共设施等各个领域,尤其可以为边远山区、沙漠、海岛等地区提供用电,可以免去长距离输电线路,显著降低成本。太阳能电池作为系统的能源动力来源,其质量的好坏和可靠性的高低直接影响到整个系统的正常运行,特别是军事、航天领域中,其可靠性研究更加重要。以往半导体器件的可靠性筛选包括检测筛选、环境应力筛选、寿命筛选和特性参数筛选等,这些筛选方法往往花费大,周期长,而且是破坏性的,不能够对器件进行百分之百的检测。随着对半导体器件内部噪声产生机理的明确,低频噪声测试分析法以其快速、简便、非破坏性等特点,被国内外的许多研究者认可和采用,并已成功运用到光电耦合器件、半导体激光器、基准二极管等多种半导体器件的可靠性筛选中。目前,国外对太阳能电池的低频噪声已...  (本文共78页) 本文目录 | 阅读全文>>

《半导体光电》2019年05期
半导体光电

基于低频电噪声的光电耦合器可靠性筛选方法研究

低频电噪声是表征电子器件质量和可靠性的敏感参数,通过测试低频噪声,可以快速、无损地实现光耦器件的可靠性评估。通过开展可靠性老化对光电耦合器低频噪声特性影响的试验研究,提出基于低频段宽频...  (本文共5页) 阅读全文>>

西安电子科技大学
西安电子科技大学

电子元器件可靠性筛选方案设计

本论文研究内容主要围绕电子元器件的可靠性筛选进行探讨,分析了电子元器件的筛选项目和筛选应力,介绍了几种常用的筛选项目、研究了半导体典型筛选方案设计。论文中对电子元器件可靠性筛选方案设计进行了详细的研究,具有重要的理论意义和应用价值。本论文选题主要来源于频发的整机故障,从电子整机系统的性能谈及电子元器件的可靠性,而对于电子元器件来说,最有效的办法就是进行可靠性筛选。电子元器件质量保证来源于可靠性筛选,可靠性筛选对于不存在缺陷而性能良好的电子元器件来说是一种非破坏性试验,对于有潜在缺陷的电子元器件来说能诱发其失效,施加的应力能使潜在缺陷激活导致电子元器件失效,进而剔除,从而提高电子元器件的可靠性。本论文研究目的主要研究在已有的筛选标准的前提下,制定的能够覆盖各院的统一的筛选流程。本论文的研究意义在于提高该批产品的可靠性水平。在一批元器件中剔除那些由于原材料、设备、工艺等方面潜在的不良因素所引发的缺陷元器件—早期失效元器件,而把具有一...  (本文共80页) 本文目录 | 阅读全文>>