全部 学问词条 学问文献 冗余位 相关学问

随着存储单元敏感节点临界电荷量的减少,一次粒子辐射事件可以影响更多存储单元,产生多位翻转。为了保障存储器内存储信息的安全,纠错码(Error Correction Codes,ECC)加固技术得到广泛应用。然而,随着系统集成度和多位翻转形式复杂度的不断提升,传统ECC加固方案已经...[详细]

哈尔滨工业大学 博士论文 2020年 下载次数(208) | 被引次数(1)

模数转换器已经成为现代电子系统中至关重要的模块,它将现实世界中连续的模拟信号转换为离散的数字信号,以便让数字信号处理系统可以高效地处理和分析数据。近年来,随着通信技术、云计算、大数据和医疗电子等技术的快速发展,模数转换器的需求越来越大,并且所需满足性能指标也越来越高。低功耗、低成...[详细]

上海交通大学 博士论文 2018年 下载次数(940) | 被引次数(5)

随着现代数字信号处理技术和计算机技术的发展,信息处理越来越趋于数字化。作为连接模拟域和数字域的关键器件,模数转换器显得越来越重要。相对于其它类型的模数转换器,逐次逼近型模数转换器在功耗和面积等方面都有很大优势,是模数转换领域的研究热点。本文基于40nm CMOS工艺,设计了一款带...[详细]

电子科技大学 硕士论文 2019年 下载次数(634) | 被引次数(12)

研究了柔性冗余度机器人的运动规划。在保证机器人实现预定运动任务的条件下 ,充分利用机器人的冗余特性 ,提出了冗余位形的新概念以及...[详细]

《机械工程学报》2000年07期 下载次数(27) | 被引次数(12)

循环冗余位校验(Cyclical Redundancy Check英文简称CRC)的实现分为硬件和软件两...[详细]

《现代计算机》1995年08期 下载次数(94) | 被引次数(0)

由于集成电路工艺的不断进步,半导体器件尺寸的持续缩小,存储器中相邻存储单元间距离变得越来越近,由一次辐射事件所引发的多位翻转(MultipleBit Upset, MBU)明显增加,MBU将对存储器可靠性产生严重的影响。有效地实现存储器抗多位翻转已经成为SRAM加固技术的研究热点...[详细]

哈尔滨工业大学 硕士论文 2014年 下载次数(106) | 被引次数(4)

针对切比雪夫距离度量下可以纠正强度有限错误的[k+n,k,d]系统置换码缺乏编译码算法的问题,利用对称群上的ranking与unranking映射以及切比雪夫距离度量下(n,m,d)置换码的交织技术...[详细]

《西安电子科技大学学报》2018年06期 下载次数(83) | 被引次数(3)

介绍了一种创建循环冗余校验 (CRC)参数表的方法 ...[详细]

《武汉化工学院学报》2000年02期 下载次数(73) | 被引次数(2)

针对基于三态内容寻址存储器(TCAM)的报文分类存在范围扩张导致空间利用率较低的问题,提出了一种利用域转换的报文分类算法(DTRM)。首先将规则集独立的范围预编码算法中范围规则编码所需的比特数量由2k-1替换为任意值,从而能够利用TCAM中的所有冗余位进行编码,实现新范围...[详细]

《西安交通大学学报》2013年10期 下载次数(62) | 被引次数(0)

公安业务数据库存在大量错误身份证号码,纠错工作量大,速度慢;或者由于工作人员的疏忽,错填漏填身份证...[详细]

《中国人民公安大学学报(自然科学版)》2010年02期 下载次数(66) | 被引次数(1)