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研究存储器数据保持时间的温度加速效应,建立数据保持时间寿命预测方法和温度加速模型,实现应用温度数据保持时间的准确预测。通过研究和分析存储器在不同温度下的阈值电压随时间加速衰减测试数据,采用阿列纽斯模型即温度倒数(1/T)模型和温度(T)模型,推导出了温度加速参数,分别进行了应...[详细]

《中国集成电路》2022年Z1期 下载次数(35) | 被引次数(0)

对Flash存储器的擦写耐久与数据保持试验方法的国内外标准进行了调研,通...[详细]

《质量与可靠性》2020年06期 下载次数(102) | 被引次数(2)

文章通过电离总剂量效应、擦写循环和数据保持试验及其叠加试验,研究了总剂量效应对浮栅型Flash存储器擦写耐久和数据保持特性的影响。对较高总剂量(150 krad(Si))和含动态...[详细]

《航天器环境工程》2019年03期 下载次数(86) | 被引次数(2)

提出了一种数据保持的高效插值算法,该方法首先采用零值内插提高采样率,降低带宽比例因子,再利用数据保持与一级CIC滤波器结合的方法来实现多倍插值。插值滤波器采用多相方法实现,有效地降低数据的处理速率,...[详细]

《现代雷达》2013年10期 下载次数(117) | 被引次数(8)

在0.18um工艺下的EPROM(OTP)的研发过程中,晶圆测试达到较高的良率后,数据保持能力的验证就是一项重要的工作。而一般以150℃下1000小时的加速实验作为验证的标准。通常在非加速条件下进行,耗时较长。在市场竞争日趋激烈的环境下,企业迫切需要缩短新产品的可靠性验证时间。本...[详细]

苏州大学 硕士论文 2010年 下载次数(113) | 被引次数(1)

在无线通信系统中,随着集成电路特征尺寸的不断缩小,芯片漏功耗急剧增大,漏功耗减小技术已成为低功耗无线通信系统设计技术的焦点之一。针对基于功控技术的触发器在休眠状态数据丢失问题,该文提出了一种新型低漏功耗数据保持触发器方案。该触发器使用高阈值...[详细]

《无线通信技术》2015年04期 下载次数(55) | 被引次数(3)

数据保持能力一直是评估非挥发性存储器可靠性的重要组成部分。栅氧化层的缺陷和浮栅的表面正离子均会诱发存...[详细]

《集成电路应用》2016年05期 下载次数(101) | 被引次数(0)

近年来,通用处理器的性能增长逐渐达到瓶颈,难以应对不断涌现的新兴应用场景需求。神经网络算法的蓬勃发展为新型计算系统架构的探索提供了广阔空间。“通用处理器+神经网络加速器”的异构计算系统,和以神经网络加速器为中心的人工智能计算系统,分别为通用计算和人工智能领域的专用计算带来了性能和...[详细]

清华大学 博士论文 2019年 下载次数(692) | 被引次数(0)

随着型号工程对电气系统长期贮存能力要求的不断提高,电气系统中程序或数据存储器对数据的保持能力变得尤为重要。本文基于阿伦尼斯模型(Arrheniu...[详细]

《质量与可靠性》2020年06期 下载次数(118) | 被引次数(3)

介绍了存储器分类,论述非易失性存储器编程机理以及编程/擦除耐久和数据保持试验方法,分析了MIL-S...[详细]

《信息技术与标准化》2012年04期 下载次数(107) | 被引次数(8)